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반도체_후공정장비/SSD 검사장비

네오셈, SSD검사장비 전 세계 M/S 1위업체 (쉽게설명!)

네오셈 사업 

· 반도체후공정검사장비(메모리반도체) : SSD Tester, MBT(Monitoring Burn-In Tester)
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제품 : SSD Tester(90%), Burn-In Tester(10%)

기회
· 서버용 데이터스토리지를 위한 SSD 사용량 증가 > SSD 검사장비 수요 증가 > SSD 검사장비 M/S 1위인 네오셈 매출액 상승예상
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리스크
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업데이트

 
주주구성(23.3월 기준) :


네오셈 

 

네오셈은 메모리반도체를 검사하는 장비를 만드는 후공정검사장비업체에요. 특히, 메모리반도체에서 SSD(Solid State Drive)를 주력으로 검사(by SSD검사장비)하고 있어요. 참고로, SSD는 서버에 데이터스토리지 역할을 하기 때문에 필수적으로 들어갑니다. 그리고, 다른 메모리칩에는 고온&저온 테스트를 하는 MBT(Monitoring Burn-In Tester)장비도 판매하고 있습니다.  

 

SSD 검사장비

 
  SSD(Solid State Drive)는 전자식으로 데이터를 저장하는 메모리모듈이에요. 기존 HDD(Hard Disk Drive)는 기계식으로 데이터를 저장했기 때문에 전력소모, 저장속도면에서 부족했었습니다. 이를 전자식으로 바꾼 SSD가 등장하고 NAND, DRAM에 모두 적용이 되면서 메모리칩이 들어가는 곳에는 SSD가 대부분 사용되고 있습니다. 점차 늘어나는 데이터를 저장을 해야하기 때문에 SSD의 저장용량과 성능이 증가하기 시작했는데요. 자연스레, 이러한 고사양화된 SSD를 검사할 수 있는 고사양의 SSD검사장비의 수요도 덩달아 증가추세에 있습니다. 

SSD는 서버용 데이터스토리지로 많이 쓰이고 있다.

 

번인테스터(Burn-In Tester) :

 
  번인테스터는 전공정인 Wafer Test, 후공정인 Final Test에 모두 사용이 되는 검사장비에요. Burn-In이라는 이름에서도 알 수 있듯 극고온&극저온의 특정 가혹한 조건을  반도체에 가해서 성능을 검사하는 것이죠.  네오셈의  번인테스터는 메모리칩 전용으로 검사를 하고 있어요. 
 
  번인테스터 공정은 간단해요. 번인테스터를 진행할 테스트소켓에 메모리칩을 올리고 챔버(Chamber)에 넣어서 온도변화를 줍니다. 그러면, 특정 온도에 적응하지 못하는 다이(Die)들이 나오겠죠. 적응하지 못한 다이들은 불량확정을 받지 않고 다시 살릴 수 있으면 살릴려고 노력을 합니다. 반도체공정이 워낙 비싸다보니 수율을 높이는 것이 핵심이기 때문이죠(특히 메모리반도체는 더욱).

메모리칩을 소켓에 올리고 챔버에서 번인테스트를 진행

 

연구실적으로 보는 네오셈의 현 주소

 
  개인적으로 네오셈의 연구실적과 연구계획을 보면 동사의 현 상황과 미래 비전이 보인다고 생각을 하는데요. 같이 몇 개만 살펴볼까요. 
 
  SSD도 시간이 흐를 수록 업그레이드가 됐겠죠. SSD시리즈를 앞에 'GEN'을 붙이고 업그레이드 할 수록 세대별로 뒤에 숫자를 붙어 GEN1, GEN2.. 식으로 이름이 붙습니다. 현재까지(23년 기준) GEN5가 가장 최신 SSD세대인데요. 네오셈의 주력이 SSD Tester인 것을 생각하면, 현재 시장에 풀린 SSD 전부를 테스트할 수 있는 역량을 보유한 것을 알 수 있어요. 또한, DIMM Module Automation Test System이라고 적혀있는데요. DIMM은 Dual In-line Memory Module의 약자에요. DRAM 모듈을 의미하는데, DRAM을 테스트할 수 있는 자동화장비를 구축한 것을 확인할 수 있습니다.


 
네오셈에 대한 지속적인 업데이트는 맨 위 상단을 참고하면 유익합니다 :)